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介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

日期:2025-01-11 20:43
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摘要:介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用 多功能元器件測試儀、測試溫箱、控制與采集軟件。 介電性能高溫測試系統(tǒng)(多通道)產(chǎn)品簡介:高溫介電測量系統(tǒng)用于高溫下材料的介電性能測量與分析,包括介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、電容等參數(shù)。系統(tǒng)軟件也可以測量其它阻抗參數(shù)。目前高溫介電測量系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。

介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

高低溫介電溫譜/頻譜測量系統(tǒng)

一、 概述:

高低溫介電常數(shù)適用于各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì),通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應(yīng)用研究科研機關(guān)、高校、工廠等地方。它是在特殊環(huán)境下,測量介質(zhì)在該環(huán)境溫度下的介電常數(shù)。

介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

介電性能高溫測試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)測量溫度:室溫-1000℃;升溫斜率:2℃/min;測溫精度:±0.1℃;控溫方式:采用 PID**控溫;高溫樣品桿:耐高溫、1000℃不氧化、電極阻抗低、絕緣好;測試方法:兩線法和四線法(鉑金電極);樣片數(shù)量:單片;絕緣材料:氧化鋁陶瓷絕緣,特殊模具加工;測試樣品:厚度 1-10mm;直徑為 2-10mm,樣品放置位置靈活,可快捷安裝和拆卸;數(shù)據(jù)處理:可通過主機 USB接口直接存儲,也可通過GPIB接口和軟件進行存儲。測量系統(tǒng)分析軟件:提供比阻抗分析儀本身更豐富的測量功能,實現(xiàn)高溫譜(參數(shù)-T)、頻率譜(參數(shù)-f)、時間譜(參數(shù)-t)、阻抗譜(Z-f-T)、介電譜(e-T-f)、Cole-Cole圖等多種掃描曲線,數(shù)據(jù)輸出格式為 ASCII碼格式,可進行更詳細的數(shù)據(jù)分析和處理操作,可在多窗口之間方便切換。

注意事項
高溫介電測試夾具與LCR儀器之間線纜連接需可靠
樣品需制備為圓盤樣品,表面光滑、平整
高溫測試過程中,高溫介電測試夾具需放入高溫測試平臺爐膛內(nèi)
較低的RBW固然有助於不同頻率信號的分辨與量測,低的RBW將濾除較高頻率的信號成份,導(dǎo)致信號顯示時產(chǎn)生失真,失真值與設(shè)定的RBW密切相關(guān),較高的RBW固然有助於寬頻帶信號的偵測,將增加雜訊底層值(Noise Floor),降低量測靈敏度,對於偵測低強度的信號易產(chǎn)生阻礙,因此適當(dāng)?shù)腞BW寬度是正確使用頻譜分析儀重要的概念。

介電常數(shù)頻譜儀的應(yīng)用

整機組成:

1、加溫裝置:采用陶瓷纖維外旦內(nèi)部嵌入加熱絲組成,有著良好地保溫隔熱和升溫性能

2、控制系統(tǒng):可實現(xiàn)對溫控升溫、降溫控制,同時對4路試樣進行切換,實時測控測試數(shù)據(jù)

3、LCR電橋:20HZ-2MHZ